Монография учёных ТГУ выведет на новый уровень диагностику электроники

Данные, которые легли в основу монографии, получены в рамках исследований, нацеленных на разработку математической модели и ПО для дефектоскопии снимков интеллектуального рентгеновского микротомографа. Проект реализуется при поддержке РНФ.

– В ходе исследований был проведен анализ методов визуальной дефектоскопии материалов и элементов радиоэлектронной аппаратуры (РЭА) по снимкам рентгеновского томографа, – говорит руководитель проекта, профессор ФИТ ТГУ Владимир Сырямкин. – Наряду с этим нами предложена концептуальная основа информационной математической модели, реализуемой в нейросетевом базисе. Также сформулирована концепция программного обеспечения для автоматизированной диагностики и классификации дефектов РЭА.

Результаты монографии можно широко использовать для диагностики печатных плат, микросхем, резисторов, диодов, транзисторов, конденсаторов и других деталей радиоэлектронной аппаратуры. Предложенные подходы позволяют проводить неразрушающий контроль корпусов приборов, органических и неорганических материалов, сварочных соединений, крупногабаритных объектов и т.д. Методы, представленные в монографии, оптимальны для использования в машиностроении, научных исследованиях при разработке РЭА, диагностике космической аппаратуры.

Проект, поддержанный грантом РНФ (№22-19-00389), рассчитан на три года. Его реализация поможет существенно ускорить и вывести на новый уровень диагностику качества создаваемого и производимого электронного оборудования, снизить степень брака на микроуровне, что является критически важным для электроники.

Добавим, что по результатам исследований по второму этапу НИР РНФ также получены другие результаты: опубликованы семь научных статей в высокорейтинговых российских и зарубежных журналах. Исполнители проекта представили его результаты на четырех международных конференциях.

Наряду с этим получено свидетельство о регистрации компьютерной программы № 2023664481 «Сплайн интерполяция и сглаживание эмпирических функций N переменных заданных на хаотических сетках».

Для справки:

Авторский коллектив монографии «Цифровая рентгеновская томография» (Digital X-ray Tomography. – 3d edition) Сырямкин В.И., Клестов С.А., Сунцов С.Б., Иваненко Б.П., Левкевич В.И. – все сотрудники Международной лаборатории систем технического зрения Научного управления ТГУ.

Источник: Новости ТГУ